集成XRD功能的赛默飞ARL9900X射线荧光光谱仪（纳米到微米膜层特征分析）是一款高效的多功能X射线分析系统，兼具XRF和XRD技术，用于过程控制。ARL9900能够满足金属工业高的化学分析精确度与可靠性需求、水泥工业过程相关的高分析需求，以及铜业和矿业的高质量控制需求。  
赛默飞ARL9900X射线荧光光谱仪技术参数：  
真空环境分析固体样品  
元素覆盖元素Be-U(安装相应的晶体)  
光管功率：1.2kW、2.5kW、3.6kW或4.2kW  
进样系统：8位或12位或98位  
重量：约750kg  
功率消耗4.8kVA  
主要特点：  
1、能匹配自动化系统，实现进样、测试和结果发送的全自动化。  
2、有XRD通道，能够同时获得元素组成和晶体结构的信息，如水泥生产过程中的游离CaO、C3S、C2S等，烧结矿中的氧化亚铁等。  
3、可以安装多达32个固定道，同时分析多个元素，提高测试效率。  
4、采用上照式的结构设计，测试结果更加稳定。  
5、可根据应用需求，选择高压发生器功率：1.2kW、3.6kW或4.2kW。  
6、光谱室真空恒温控制，晶体有独立的温控系统，确保分析的稳定性和可靠性。  
7、莫尔条纹无齿轮测角仪，定位准确，转动速度快。
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