Park为FA和研究实验室提供精确的形貌测量解决方案低噪声Z探测器可精确测量AFM表面形貌用真正的非接触扫描方式节省成本。  
ParkNX20凝聚着具创新的AFM技术  
1.100μmx100μm扫描范围的XY平板扫描器  
2.高速Z轴扫描器，扫描范围达15μm  
3.低噪声XYZ位置传感器  
4.集尘编码器的XY自动样品载台  
5..自动多点样品扫描  
6.操作方便的样品台  
7.用于拓展扫描模式易插拔扩展槽  
8.同轴高功率光学集成LED照明和CCD系统  
9.扫描头滑动嵌入式设计  
10..自动Z轴移动和聚焦系统  
在半导体产业发展如火如荼的今天，上海磊微伴随着行业不断学习、积极提升自身水平，为越来越多的客户提供了专业的产品和服务。今后，磊微将以不断培育的市场为依托，以先进优质产品为核心，以高效运作的团队为基础，迎来更快更好的发展。我们一直秉承团结创新、严谨奋进的企业精神，秉承诚信务实、互利多赢的经营理念，努力为客户、为社会提供高品质产品和服务  
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